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SPA-100 光學掃描分析儀
  • 產品介紹
  • 規格參數

    SPA-100是Santec可調諧激光器的便捷光頻域反射計（OFDR）附加模塊。當配對在一起時，整個系統可以分析最緊湊和最復雜的光學組件，從而產生反射率、透射率、傳播損耗和特定事件距離的結果。

    整個系統采用OFDR（光頻域反射計）技術，使其能夠分析空間域中光纖設備/組件的背向反射和傳輸特性。該系統產生類似于OTDR（光時域反射儀）的跡線，但具有更高的分辨率和精度。該系統具有5um的采樣分辨率，使其能夠輕松識別PIC（光子集成電路）和硅光子（SiPh)器件中的結構。

    憑借廣泛的可調諧激光器選擇，OFDR系統具有高度可配置性，可在對被測設備具有重要意義的光譜范圍內發揮作用，無需限制在小波范圍內。

    特點&優勢:

    （1）測量光學元件上的IL和RL

    （2）可基于Santec TSL進行配置

    （3）指定感興趣區域以分析光學設備的事件/特征

    （4）為跡線的不同區域定義多個折射率

    （5）動態范圍為70dB的頻譜分析

    （6）反射事件的光譜分析

    （7）用于SiPh和PIC波導對準的接近感應

    （8）對反射事件的靈敏度低，幾乎沒有盲區

    應用：

    （1）硅光子波導分析

    （2）自動虹吸晶圓對準

    （3）光學元件反射率和分析

    （4）波長相關成分表征

    （5）光纖連接器和線纜組件配接分析

    （6）高分辨率反射率分析和長度測量

    要求：

    兼容Santec可調激光器：TSL570，710，770

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